◆性能特點(diǎn):
實(shí)現(xiàn)樣品保持不動(dòng),探針移動(dòng)掃描的商業(yè)化原子力顯微鏡。
樣品尺寸、重量幾乎不受限制,特別適合超大的樣品檢測(cè)。
樣品臺(tái)可拓展性強(qiáng),非常便于進(jìn)行多儀器聯(lián)用實(shí)現(xiàn)原位檢測(cè)。
電動(dòng)控制樣品移動(dòng)臺(tái)和升降臺(tái),可任意編程多點(diǎn)位置實(shí)現(xiàn)快速自動(dòng)化檢測(cè)。
龍門(mén)架式掃描頭設(shè)計(jì),大理石底座,真空吸附和磁性吸附式載物臺(tái)。
馬達(dá)自動(dòng)控制加壓電陶瓷自動(dòng)探測(cè)的智能進(jìn)針?lè)绞?,保護(hù)探針及樣品。
高倍輔助光學(xué)顯微定位,實(shí)時(shí)觀測(cè)與定位探針以及樣品掃描區(qū)域。
集成掃描器非線(xiàn)性校正用戶(hù)編輯器,納米表征和測(cè)量精度優(yōu)于98%。
◆測(cè)量范圍及應(yīng)用:
測(cè)量范圍:二維、三維、Z值、相位、表面形貌、粗糙度、膜厚、形貌、相位。
應(yīng)用:納米材料、石墨烯、薄膜、鈍化膜、短切玻纖復(fù)材、分子篩、TiO2、CrPS4(15)、CrPS4(16)、中空纖維膜絲、粗糙度測(cè)試、四氧化三鐵、M13-PBA等。
◆ 應(yīng)用案例 Application Case
序號(hào) | 名稱(chēng) | 技術(shù)參數(shù) |
01 | 工作模式 | 接觸模式、輕敲模式 |
02 | 選配模式 | 摩擦力/側(cè)向力、振幅/相位、磁力/靜電力 |
03 | 力譜曲線(xiàn) | F-Z力曲線(xiàn)、RMS-Z曲線(xiàn) |
04 | XY掃描范圍 | 20×20um,可選50×50um,100×100um |
05 | Z掃描范圍 | 2.5um,可選5um,10um |
06 | 掃描分辨率 | 橫向0.2nm,縱向0.05nm |
07 | 樣品尺寸 | Φ≤90mm,H≤20mm |
08 | 樣品臺(tái)行程 | 15×15mm |
09 | 光學(xué)觀察 | 4X光學(xué)物鏡/2.5um分辨率 |
10 | 掃描速率 | 0.6Hz~30Hz |
11 | 掃描角度 | 0~360° |
12 | 運(yùn)行環(huán)境 | Windows XP/7/8/10操作系統(tǒng) |
13 | 通信接口 | USB2.0/3.0 |
14 | 減震設(shè)計(jì) | 彈簧懸掛/金屬屏蔽箱 |
服務(wù)熱線(xiàn)
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